机译:用有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命
机译:在热循环下过程产生的空隙对无铅焊点疲劳寿命影响的有限元分析
机译:表面安装功率器件功率循环期间无铅焊点疲劳寿命的有限元建模和表征
机译:在BGA组件的热循环测试中测量无铅焊料(SnAg / sub 3.8 / Cu / sub 0.7 /)的加速因子,并通过有限元分析校准无铅焊点模型以预测寿命
机译:重复机械跌落载荷作用下无铅BGA焊点失效机理的建模和寿命预测。
机译:考虑载荷顺序影响的BGA热疲劳寿命预测模型
机译:芯片组件无铅焊点的疲劳寿命散射(<特殊问题>电子设备和机械工程的热电机械可靠性)