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机译:NBTI和P沟道功率VDMOS晶体管中的辐射效应
Department of Microelectronics, Faculty of Electronic Engineering, University of Ni��, Ni��, Serbia;
Interface traps; VDMOSFET; irradiation effects; negative bias temperature instability (NBTI); oxide traps; power devices; thermal annealing; threshold voltage shift;
机译:功率VDMOS晶体管中的NBTI和与辐射有关的退化机制
机译:P沟道功率VDMOSFET中的脉冲NBTI综述
机译:关于p沟道功率VDMOSFET中NBTI的可恢复和永久成分
机译:低磁场下功率VDMOS晶体管的NBTI应力
机译:热,应变和中子辐照对AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管和GaN肖特基二极管中缺陷形成的影响
机译:用于高频和医疗设备的垂直双扩散金属氧化物半导体(VDMOS)功率晶体管结构的优化
机译:辐射应力影响对P沟道功率VDMOS晶体管阈值电压影响的建模与PSPICE模拟
机译:用于低功率p沟道场效应晶体管的化合物半导体