机译:纳米级
Activation energy; NAND flash; TCAD; charge loss; degradation; nand flash; program/erase cycling;
机译:氧化层中捕获的电荷导致纳米级电荷陷阱闪存的电降解机理
机译:利用扩展指数函数研究纳米级电荷陷阱非易失性存储器的电荷损失机理
机译:循环诱导的Intercell捕获电荷对3-D NAND闪存中的保留电荷损耗的影响
机译:3-D NAND闪存中短期保留操作期间的电荷损失机制建模
机译:NAND闪存:表征,分析,建模和机制
机译:用于减少Z干扰的垂直NAND闪存的新型程序方案
机译:电荷陷阱3D NAND闪存中过渡层缺陷引起的电荷损失
机译:评估3D NaND闪存的辐射敏感性。