机译:0.18μMMOSFET中热载波降解的研究,用于评估装置寿命和数字电路性能
Indian Inst Technol Delhi Dept Elect Engn New Delhi 110016 India;
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Dept Space Semicond Lab Chandigarh 160071 India;
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Effective switching current; circuit delay; hot-carrier degradation; interface trap generation; inverter; lifetime; MOSFET; NAND; NOR and time power-law exponent;
机译:NMOSFET热载流子退化对CMOS模拟子电路性能的影响
机译:高$ k $ /金属门nMOSFET中热载流子降解对射频小信号参数和性能的新研究
机译:BTI导致的数字电路寿命退化的工作量和温度相关评估
机译:薄膜SOI nMOSFET在V / sub GS // spl ap / V / sub TH /应力下的新型器件寿命行为和热载流子降解机制
机译:蒙特卡洛研究了低功率深亚微米n-MOSFET中的热载流子退化和器件性能。
机译:以纳米MOSFET为基准的碳纳米管场效应晶体管的器件和电路级性能
机译:使用横向非对称沟道MOSFET评估布局对器件和模拟电路性能的影响