机译:拆分:输出掩膜方案,用于具有测试压缩的扫描体系结构中有效的复合缺陷诊断
Department of Electrical Engineering, National Tsing-Hua University, Hsinchu, Taiwan;
Compound defect diagnosis; output compactor; output masking scheme; scan test; test compression;
机译:基于改进蚁群荟萃启发式循环扫描架构的高效VLSI测试数据压缩方案
机译:使用路由驱动的扫描架构进行低功耗扫描测试以压缩测试数据
机译:扫描刺激和未知掩蔽数据的统一测试压缩技术,无测试损失
机译:输出测试压缩以进行复合缺陷诊断
机译:基于交换理论概念的数字核心输出测试数据压缩体系结构:模型实现和分析。
机译:具有无损测试输出压缩方案的低成本并发TSV测试架构
机译:具有非扫描测试能力和测试应用程序成本的扫描测试的经济高效扫描架构