边界扫描测试中簇测试交迭置入方案研究

摘要

针对电路板边界扫描测试中簇测试时间较长、测试效率较低问题,以并行测试思想为基础,提出了一种簇测试置入方案--交迭置入方案,并对其进行了理论分析和实验验证.结果表明,该方案是最优的簇测试置入方案,可以显著减小簇测试时间,提高簇测试效率.