机译:使用路由驱动的扫描架构进行低功耗扫描测试以压缩测试数据
Sch. of Software, Tsinghua Univ., Beijing;
data compression; flip-flops; logic testing; low-power electronics; network routing; clock cycle capture test response; low-power scan testing; peak test power data volume; routing overhead; routing-driven scan architecture; Capture test power; peak test power; test application cost; test data volume;
机译:使用两阶段扫描架构的低功耗扫描测试的约束转换传播
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机译:将低功耗扫描测试与测试数据压缩相结合,以实现片上系统
机译:低功耗扫描测试和测试数据压缩
机译:摘要60:3D患者和外科医生指尖的面部扫描:iPhone X 3D扫描仪的精度和精确测试
机译:用于片上系统的低功耗扫描测试和测试数据压缩