机译:亚微米nMOS LDD晶体管中的第二衬底电流峰值及其与栅极电压相关的串联电阻的关系
IMEC vzw, Leuven, Belgium;
MOS integrated circuits; insulated gate field effect transistors; semiconductor device models; LDD transistors; gate-source voltage; gate-voltage dependent series resistance; lateral electric field; model; second substrate current peak; source series resistance; source side; submicrometre; submicron NMOS transistors;
机译:总剂量辐照对nMOS和pMOS晶体管噪声的栅极电压依赖性的影响
机译:衬底电流和沟槽LDD晶体管的退化
机译:采用热电子处理的LDD nMOS晶体管潜在的ESD损坏的有效恢复机制
机译:确定亚微米LDD-MOSFET中与栅极电压相关的串联电阻和沟道长度
机译:石墨烯晶体管中与衬底有关的高场传输和自热
机译:聚对二甲苯C衬底上的柔性底栅石墨烯晶体管和电流退火的影响
机译:使用新颖的超线性晶体管,在1 GHz频率下具有并行NMOS和PMOS晶体管,可降低电流AB类无线电接收器级