机译:差分读取对称8T SRAM位单元,具有增强的数据稳定性
School of Electronics Engineering, Kyungpook National University, Sankyug-Dong, Book-Gu, Daegu, Republic of Korea;
机译:具有70nm技术的低泄漏和高数据稳定性空闲模式的新型8T SRAM电路
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机译:具有扩展的写入/读取稳定性的差分数据感知功率上电(D $ ^ {2} $ AP)8T SRAM单元,适用于更低的VDDmin应用
机译:接地门控的8T SRAM单元具有增强的读取和保持数据稳定性
机译:在16NM技术中使用FinFET和CMOS的8T SRAM单元的设计与性能评估
机译:蛋白质酪氨酸磷酸酶(PTP)抑制可提高遗传毒性应力后的染色体稳定性:以增强的基因组不稳定性(杜松子酒)为代价降低染色体不稳定性(CIN)?
机译:使用FinFET和CMOS逻辑的双端口8T SRAM单元进行泄漏减少和增强的读写稳定性