机译:用于金属门/高$ k $堆栈的偏置温度不稳定性测试的电压斜坡应力
Bias temperature instability; high-$k$ dielectrics; metal gate; negative-bias temperature instability (NBTI); positive-bias temperature instability (PBTI);
机译:功函数调整的高k /金属栅叠层中偏置温度不稳定性的研究
机译:高(kappa)门堆叠中正偏置温度不稳定性(PBTI)的快速分量的电荷捕获模型
机译:高MOSFET阈值电压漂移中的快速元件对偏置温度不稳定性的影响
机译:偏压不稳定性诱导的双金属栅/高κCMOSFET的降解模式
机译:在二氧化f和基于二氧化硅的金属氧化物-硅结构中,与偏置温度不稳定性和应力引起的泄漏电流有关的缺陷的磁共振观察。
机译:匝道试验:一种关节镜检查技术用于确定关节内半脱位和肩膀内肱二头肌腱长头的不稳定性
机译:在In0.7ga0.3as的不稳定性,用单层AL2O3和双层AL2O3 / HFO2栅极堆叠在正偏置温度(PBT)应力下引起的单层AL2O3和双层AL2O3 / HFO2堆叠
机译:高K场效应晶体管偏置温度不稳定性测量中的异常漏电压依赖性