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机译:高(kappa)门堆叠中正偏置温度不稳定性(PBTI)的快速分量的电荷捕获模型
Dipartimento di Scienze e Metodi dell??Ingegneria, Universit?? di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, Italy|c|;
Charge trapping; device modeling; high-κ dielectric; high-?? dielectric; positive bias temperature instability (PBTI); positive bias temperature instability (PBTI).;
机译:高(kappa)金属栅极nMOSFET中正偏置温度不稳定性的随机建模
机译:高MOSFET阈值电压漂移中的快速元件对偏置温度不稳定性的影响
机译:基于充电组件独立特征的La基HfO_2 nFET的正偏置温度异常异常分析模型
机译:在阳性偏置温度不稳定下,在
机译:高温和超高温干燥:它们对面食的品质和淀粉成分的影响。
机译:生态模型预测肯尼亚儿童的疟疾涂片阳性在中间温度达到峰值
机译:旨在了解全嵌入式栅极GaN MIS-FET中的正偏置温度不稳定性(PBTI)