机译:1.2kV 4H-SiC分裂栅八边形MOSFET的分析和实验量化
PowerAmerica Institute North Carolina State University Raleigh NC USA;
Logic gates; MOSFET; Split gate flash memory cells; Silicon carbide; Topology; JFETs; Performance evaluation;
机译:分栅式1.2kV 4H-SiC MOSFET:分析和实验验证
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