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Analysis and Experimental Quantification of 1.2-kV 4H-SiC Split-Gate Octagonal MOSFET

机译:1.2kV 4H-SiC分裂栅八边形MOSFET的分析和实验量化

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摘要

A 1.2-kV rated 4H-SiC split-gate octagonal cell MOSFET (SG-OCTFET) is proposed and successfully fabricated in a 6-in foundry for the first time. The measured results quantify the benefits of the SG-OCTFET structure: improvement in high-frequency figures o
机译:提出了额定电压为1.2kV的4H-SiC分裂栅八边形MOSFET(SG-OCTFET),并首次在6英寸代工厂成功制造。测量结果量化了SG-OCTFET结构的好处:高频数字的改善o

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