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A Novel Heat Dissipation Structure for Inhibiting Hydrogen Diffusion in Top-Gate a-InGaZnO TFTs

机译:抑制顶部栅极a-InGaZnO TFTs氢扩散的新型散热结构

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摘要

In order to better understand the reliability issues in top-gate a-InGaZnO (a-IGZO) thin-film transistors, this letter investigates the degradation mechanism of a device under self-heating stress (SHS). After applying hot carrier stress, a negative thresh
机译:为了更好地理解顶栅a-InGaZnO(a-IGZO)薄膜晶体管中的可靠性问题,本文探讨了器件在自热应力(SHS)下的退化机理。施加热载流子应力后,脱粒

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