机译:3-D集成中的μ-Bump和TSV仿真
机译:采用3-D集成方案的自底向上Cu TSV电镀密封凸点
机译:大型模具上20μm节距凸块的3D TSV六模堆叠和可靠性评估
机译:用于3-D集成的传感器和插入器芯片的环形铜填充TSV的研究
机译:3D集成中含铜TSV的铜突起对微凸点热疲劳行为影响的三维模拟
机译:取决于Fin形状和TSV以及3D集成电路中背栅噪声耦合的FinFET电性能仿真。
机译:接入网格技术:在夏威夷和新墨西哥州的医学院中集成TCP / IP协作会议高性能计算和3-D模拟的经验教训
机译:CU电镀和低alpha焊料在TSV上撞击3-D包装
机译:校准和使用Bump-Integrator进行驾驶评估的进展