Tufts University.;
机译:3-D集成电路中硅通孔(TSV)-FinFET噪声耦合的仿真方法和评估
机译:FinFET中的鳍形波动:与电可变性的关系以及对6-T SRAM噪声容限的影响
机译:基于TSV的3-D集成电路中基板噪声耦合的测量和分析
机译:具有统计变化的SOI FinFET的3D耦合电热模拟,包括导热系数与鳍形的关系
机译:三维(3-D)集成电路(IC)中的硅通孔(TSV)相关噪声耦合。
机译:在3-D集成电路中通过硅通孔(TSV)互连进行信令传输时。