退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
张宁;
合肥工业大学信息工程系,安徽 242200;
集成电路制造; 硅通孔; 刻蚀; 铜填充; 铜暴露;
机译:三维集成电路(3-D IC)中基于超小型TSV的共模滤波器(TSV-CMF)
机译:基于微凸点/胶粘混合键合的Cu TSV晶圆级三维集成方案在三维存储中的应用
机译:三维集成电路中TSV–TSV耦合的分析和优化
机译:三维集成中的时钟泵送技术的设计空间探索减少硅通孔(TSV)制造成本
机译:三维(3D)集成中的直通孔(TSV)的电气评估和建模。
机译:三维集成电路(3D IC)关键技术:硅通孔(TSV)
机译:危害评估和技术援助报告Ta 79-10,环境保护局,Beltsville农业研究中心,马里兰州Beltsville
机译:用于检测三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)中的TSV裂纹的硅通孔(TSV)裂纹传感器以及相关方法和系统
机译:通过硅VIA(TSV)裂纹传感器检测三维(3D)集成电路(ICS)(3DICS)中的TSV裂纹以及相关方法和系统
机译:通孔硅VIA(TSV)裂纹传感器,用于检测三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)中的TSV裂纹以及相关方法和系统
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。