首页> 外文期刊>Design & Test of Computers, IEEE >Probing Attacks on Integrated Circuits: Challenges and Research Opportunities
【24h】

Probing Attacks on Integrated Circuits: Challenges and Research Opportunities

机译:探测对集成电路的攻击:挑战和研究机会

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

As a type of invasive physical attacks, probing attacks are able to access and directly monitor security critical nets of an IC and extract sensitive information. In this paper, the authors summarize the state-of-the-art probing and anti-probing technologies and their challenges, and discuss the opportunities in the relevant research.
机译:作为一种侵入性物理攻击,探测攻击能够访问并直接监视IC的安全关键网络并提取敏感信息。在本文中,作者总结了最新的探测和反探测技术及其挑战,并讨论了相关研究的机会。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号