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姜晓东; Ted Lundquist; Jim Brown;
斯伦贝谢技术(亚太)有限公司;
Schlumberger ATE;
显微探测; 时序; 电平; 设计开发; 聚焦离子束;
机译:聚焦离子束系统对无源集成电路的局部显微观察
机译:显微镜尖端离子和电子探测器离子阱之间的显微镜聚焦离子束(FIB)中的电场效应
机译:使用扫描力显微镜采样器进行高速集成电路探测
机译:基于扫描/透射电子显微镜的基于双光束聚焦离子束(FIB)的双光束聚焦离子束(FIB)的应用(S / TEM)的应用
机译:静电力显微镜和原子力显微镜在集成电路内部信号测量中的应用。
机译:多分辨率相关聚焦离子束扫描电子显微镜:细胞生物学的应用
机译:通过聚焦离子束制剂对透射电子显微镜进行聚焦离子束制剂诱导的四边形PMN-PT薄膜的格子重新定位
机译:可切换零级衍射光栅作为光阀(在聚焦离子束辅助沉积中应用于集成电路重构的附加任务)
机译:铱尖端,气体场离子源,聚焦离子束设备,电子源,电子显微镜,电子束应用分析设备,离子电子多束设备,扫描探针显微镜和掩模修复设备
机译:铱尖,气田离子源,聚焦离子束设备,电子源,电子显微镜,电子束应用分析设备,离子电子多束设备,扫描探针显微镜和掩模修复设备
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