机译:基于外延层III-V隧道FET的分析建模与装置设计优化
IIT Roorkee India;
IIT Roorkee India;
IMEC Belgium;
elemental semiconductors; field effect transistor switches; field effect transistors; III-V semiconductors; Poisson equation; semiconductor device models; surface potential; tunnel transistors; tunnelling;
机译:基于设备物理的单门扩展源隧道FET电气特性分析模型(SG-ESTFET)
机译:校正“具有设计与可靠性的高级FinFET设备自加热模型的分析热模型”
机译:先进FinFET器件中自加热的分析热模型,对设计和可靠性有影响
机译:III-V隧道FET的器件设计,可通过线路隧道提高性能
机译:III-V型化合物半导体器件的分析模型和计算机辅助模型。
机译:MRI医疗设备安全性的数值模拟和分析模型综述
机译:基于物理基于非对称升高源隧道FET(AES-TFET)的分析模型,用于更好的隧道结装置(TJD)性能
机译:基于Inp的mIsFET和异质结器件的分析和计算机辅助模型。