机译:n〜-4H-SiC外延层中的寿命限制缺陷
机译:延长缺陷和椭圆形面对生长4H-SIC脱落剂少数载体寿命分布的影响
机译:三角形结构缺陷对4H-SiC超厚外延层载流子寿命的影响
机译:γ射线辐照对器件过程中4H-SiC外延层缺陷的影响
机译:DLTS与理论计算ru-SiC脱晶肖特基二极管ru诱导深层缺陷的起源调查
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:立方碳化硅外延层中缺陷的非线性光学成像
机译:4H-siC外延层中胡萝卜缺陷的结构
机译:n( - )4H-siC外延层的寿命限制缺陷。