机译:TiN / La_2O_3 / HfSiON / SiO_2 / Si高k层中镧扩散的评估和建模
STMicroelectronics, 850 rue Jean Monnet, F-38926 Crolles, France,LAAS CNRS, 7 avenue du Colonel Roche, 31077 Toulouse, France;
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