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科信;
碳化硅材料; 少数载流子寿命; 层电阻; 新型产品; 低电阻; 开路电压; 导通电阻; 日本大学; 最终结构; 表面钝;
机译:量子线阱(WoW)电池具有较长的载流子寿命,可实现高效的载流子传输
机译:基于InxGa1-xAs / GaAs异质结构控制高压p-i-n-二极管中载流子的寿命
机译:利用生长后退火显着提高载流子寿命来确定BaSi_2富含地球的吸收剂薄膜中的少数载流子寿命
机译:高压4H-SiC二极管中的载流子寿命“悖论”
机译:III-V和II-VI型天基红外探测器中的载流子寿命与质子辐射的关系
机译:通过应变补偿来调节InGaN / GaN LED中的载流子寿命以实现高速可见光通信
机译:具有轴向载流子寿命梯度的P + NN +二极管结构中的OCVD载流子寿命
机译:关于少数载流子扩散长度/寿命测量的第一次工作组会议:循环寿命/扩散长度测试的结果
机译:载流子寿命测量设备-无损地测量SC板中的局部载流子寿命,尤其是。在硅片中
机译:通过单次检查小额增长来重复实现小额增长来确实实现大增长的增长的辅助/实现方法
机译:半导体器件中少数载流子扩散长度和少数载流子寿命的无损测量方法
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