可食性魔芋葡甘聚糖薄膜物理特性研究

摘要

对两种不同等级魔芋精粉制备膜的膜面SEM图像的数字参数差异、膜抗张强度差异等进行了方差分析比较,结果不同等级原料制备的膜间,膜面Hausdorff维数与抗张强度差异均达极显著水平(F＞F0.01),而膜面灰度水平变化方差差异不显著(F＜F0.05);相同等级原料制备所得膜,在不同放大倍数下的膜面SEM图像灰度水平变化方差与Hausdorff维数差异均不显著(F＜F0.05).