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龚大卫; 陆昉; 孙恒慧;
复旦大学物理系;
SI-GaAs; 深能级; 缺陷; PICTS法; 测量;
机译:辐照III-V半导体中深本征点缺陷能级的能量位置与有限费米能级之间的相关性
机译:扰动簇方法研究(100)MoS 2 sub>表面缺陷的能级和电子性质
机译:扰动簇方法研究(100)M0S2表面缺陷的能级和电子性质
机译:用PICTS研究半绝缘GaAs中Cu相关的深能级
机译:利用电子顺磁共振和光电子顺磁共振研究半绝缘4H-SiC中的缺陷能级
机译:在Globus pallidus的定向深脑刺激引线中激活的组织体积:具有非均相组织性质的建模研究
机译:光核化的微观理论:利用密度泛函方法研究两能级原子的流体性质,其中一部分被激发
机译:al / sub X / Ga / sub 1-X / as中缺陷能级压力依赖性的瞬态电容研究
机译:用于研究流体性质的设备和用于研究悬浮在流体中的微生物或其他生物材料样品的方法
机译:用于研究骨组织缺陷的方法,用于研究骨质塑料材料骨整合和松质骨组织再生在兔子的实验中
机译:通过对该物质的热性质的不同测量来研究和控制液体或凝胶中的状态变化的方法,以及使用该方法的装置。
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