首页> 中文期刊> 《半导体学报》 >薄膜厚度对La_(0.85)Sr_(0.15)MnO_3/TiO_2异质pn结的整流特性的影响

薄膜厚度对La_(0.85)Sr_(0.15)MnO_3/TiO_2异质pn结的整流特性的影响

         

摘要

采用磁控溅射法制备的La0.85Sr0.15MnO3(100nm;5.0nm;17nm)/TiO2(70nm)异质pn结表现出明显的整流特性,其中La0.85Sr0.15MnO3(100nm)/TiO2异质pn结所呈现的整流特性相对较好,同时发现该整流特性在很宽的测量温度范围(80~320K)内存在.通过拟合发现,所有样品都呈现很大的串联电阻,并且串联电阻对整流特性有很大的影响.变温电流电压特性曲线显示随着测量温度的降低,结电压增大,这可能是由于随着测量温度的变化导致界面电子结构的变化.应该指出的是,La0.85Sr0.15MnO3/TiO2异质pn结结电阻随温度变化曲线显示出单层LSMO所特有的金属绝缘相变特性,并且在低温测量时,结电阻随着测量温度的降低而增大,这个变化趋势也同拟合后的串联电阻变化趋势相似.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号