约束输入精简的多扫描链BIST方案

梁华国; 刘军; 蒋翠云; 欧阳一鸣; 易茂祥

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运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流.

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来源
《计算机辅助设计与图形学学报》 |2007年第3期|371-375|共5页
作者
梁华国; 刘军; 蒋翠云; 欧阳一鸣; 易茂祥;
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作者单位

合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;

合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;

合肥工业大学理学院,合肥,230009;

合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;

合肥工业大学理学院,合肥,230009;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
内建自测试; 输入精简; 线性反馈移位寄存器; 折叠计数器; 多扫描链; 测试数据压缩;

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