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一种存储器的BIST地址扫描电路及其扫描方法

摘要

本发明公开了一种存储器的BIST地址扫描电路,包括:地址寄存器、加法器、地址边界比较器、地址边界寄存器、地址边界选择器、加数选择器、进位位选择开关、结束信号选择器和控制字。所述地址寄存器连接存储器地址线、地址边界选择器和加法器;所述加法器连接加数选择器和进位位选择开关;所述地址边界比较器连接地址边界寄存器、地址边界选择器、进位位选择开关和结束信号选择器;所述控制字连接加数选择器、进位位选择开关、地址边界选择器和结束信号选择器。本发明还公开了一种存储器的BIST地址扫描方法。本发明的BIST地址扫描电路及其扫描方法支持多维地址空间的多存储器系统的测试,能测试各种类型的存储器。

著录项

  • 公开/公告号CN103177768B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201110441108.0

  • 发明设计人 黄昊;高璐;

    申请日2011-12-26

  • 分类号G11C29/12(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:37:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

    授权

  • 2014-02-05

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G11C29/12 变更前: 变更后: 登记生效日:20140107 申请日:20111226

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/12 申请日:20111226

    实质审查的生效

  • 2013-06-26

    公开

    公开

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