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第一章 引言
1.1课题的研究目的和意义
1.2多扫描链BIST的概述
1.3本文的主要研究内容
1.4本文结构及内容安排
第二章扫描BIST的理论基础
2.1扫描测试
2.1.1故障模型的可测性
2.1.2可控性和可观性
2.1.3扫描测试的结构
2.1.4扫描测试的工作原理
2.2内建自测试
2.3 Logic BIST结构的分析
2.3.1 带有BILBO寄存器的BIST结构
2.3.2基于STUMPS的BIST结构
2.4本章小结
第三章基于STUMPS扫描BIST结构的优化
3.1 被测电路输入输出端口的优化
3.2细胞自动机
3.2.1细胞自动机的理论
3.2.2如何构造最长周期的细胞自动机
3.3二维细胞自动机
3.4减少测试矢量间线性相关性的方法
3.5优化后的扫描BIST系统
3.6本章小结
第四章优化后扫描BIST系统的实现
4.1输入输出端口扫描单元的设计与验证
4.1.1 输入输出端口扫描单元的代码编写
4.1.2输入输出端口扫描单元的综合
4.1.3输入输出端口扫描单元的扫描设计
4.1.4输入输出端口扫描单元的功能验证
4.2被测电路的综合和顶层模块的设计
4.2.1被测电路的综合
4.2.2 顶层模块的代码编写
4.2.3项层模块的扫描设计
4.3伪随机生成电路的设计
4.4故障仿真
4.5本章小结
第五章试验以及数据分析
5.1 ISCAS'85及ISCAS'89基准电路的简介
5.2试验结果及分析
5.3本章小结
第六章总结与展望
6.1 总结
6.2展望
参考文献
作者在攻读硕士学位期间公开发表的论文
作者在攻读硕士学位期间所做的项目
致谢
上海大学;