机译:扫描链排序,以使用兼容的扫描触发器减少BIST辅助扫描测试的测试数据
机译:使用兼容的扫描触发器进行扫描链排序以减少BIST辅助扫描测试的测试数据
机译:扫描触发器分组以压缩测试数据和紧凑的测试响应,以进行捕获时延迟测试
机译:触发器选择用于部分增强型扫描,以减少过渡测试数据量
机译:使用兼容的触发器和移位逆变器代码进行BIST辅助扫描测试的测试数据减少
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:摘要60:3D患者和外科医生指尖的面部扫描:iPhone X 3D扫描仪的精度和精确测试
机译:使用具有多个扫描链的电路中的可随机测试和周期可测试的扫描链来减少测试数据量