BIST-aided scan test; compatible flip-flops; scan chain ordering; test data reduction; test pattern generation;
机译:扫描链排序,以使用兼容的扫描触发器减少BIST辅助扫描测试的测试数据
机译:使用兼容的扫描触发器进行扫描链排序以减少BIST辅助扫描测试的测试数据
机译:BAST:BIST辅助扫描测试。降低测试成本的新方法
机译:使用兼容的触发器和移位逆变器代码测试BIST-AFID扫描测试的数据减少
机译:超高数据速率光传输网络第1部分:用于超高速长距离传输的光学系统测试平台的设计第2部分:相移键控解调器中与偏振有关的惩罚的分析和减少。
机译:使用连锁扫描数据测试多组基因组位置以丰富疾病位点:一种假设检验的方法
机译:两级卡在故障测试数据压缩使用扫描触发器,延迟故障可测试性
机译:XmD-7火控系统预B-58测试的数据减少编程第1卷,共3个功能描述数据减少系统