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一种多核共享测试数据的BIST方案

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文中提出了一种新颍的SOC芯片BIST方案.该方案是利用相容技术和折叠技术,将SOC芯片中多个芯核的测试数据整体优化压缩和生成,并且能够实现多个芯核的并行测试,具有很高的压缩率,平均压缩率在94%以上;且结构简单、解压方便、硬件开销低,实验证明是一种非常好的SOC芯片的BIST方案.

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来源
《计算机技术与发展》|2006年第5期|214-216|共3页
作者
方祥圣; 梁华国; 沈祝财;
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作者单位

安徽经济管理学院,计算机系,安徽,合肥,230051;

合肥工业大学计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;

合肥工业大学计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;

合肥工业大学计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类理论、方法;
关键词
SOC 芯片; 测试数据共享; BIST;
入库时间 2022-08-18 05:38:55

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