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【2h】

Two-Stage Stuck-at Fault Test Data Compression Using Scan Flip-Flops with Delay Fault Testability

机译：两级卡在故障测试数据压缩使用扫描触发器，延迟故障可测试性

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作者
Kentaroh Katoh; Kazuteru Namba; Hideo Ito;
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年度 2008
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1. Using Stuck-At Tests to Form Scan-Based Tests for Transition Faults in Standard-Scan Circuits [J] . IRITH POMERANZ, SUDHAKAR M. REDDY ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems . 2010,第1期

机译：使用停留测试形成标准扫描电路中过渡故障的基于扫描的测试
2. Test generation for path delay faults based on test set for stuck-at faults [J] . Ryo Mizumoto, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 電子情報通信学会技術研究報告. フォ-ルトトレラントシステム . 2000,第250期

机译：基于卡死故障的测试集，生成路径延迟故障的测试
3. Test generation for path delay faults based on test set for stuck-at faults [J] . Ryo Mizumoto, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 電子情報通信学会技術研究報告. フォ-ルトトレラントシステム . 2000,第250期

机译：基于卡死故障的测试集，生成路径延迟故障的测试
4. Generating Compact Robust and Non-Robust Tests for Complete Coverage of Path Delay Faults Based on Stuck-at Tests [C] . Xiang Dong, Li Kaiwei, Fujiwara Hideo, International Conference on Computer Design . 2007

机译：基于卡在测试的路径延迟故障的完全覆盖产生紧凑的鲁棒和非稳健测试
5. Compaction mechanism to reduce test pattern counts and segmented delay fault testing for path delay faults [D] . Jha, Sharada 2013

机译：压缩机制可减少测试模式计数，并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
6. Building fault detection data to aid diagnostic algorithm creation and performance testing [O] . Jessica Granderson, Guanjing Lin, Ari Harding, 2020

机译：建立故障检测数据以帮助诊断算法创建和性能测试
7. Complete fault detection tests of the length two for logic networks under stuck-at faults of gates [O] . Kirill Andreevich Popkov 2017

机译：盖住盖住故障下逻辑网络的长度两个故障检测测试

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