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涂吉; 王子龙; 李立健;
中国科学院自动化研究所 北京100190;
聚类压缩; 移位压缩; 内建自测试; 测试激励;
机译:基于三态测试激励的全数字BIST封装,可动态测试40 nm CMOS 18位立体声音频ΣΔADC
机译:基于移位寄存器的BIST体系结构,用于FPGA全局互连测试和诊断
机译:基于确定性测试集信号概率的聚类RIN BIST
机译:使用兼容的触发器和移位逆变器代码进行BIST辅助扫描测试的测试数据减少
机译:一种在生产测试中实现RF BiST的方法,以代替RF常规测试。
机译:开发和测试一种工具以确定希腊医疗保健部门的绩效激励
机译:基于加权伪随机测试的混合BIsT:一种新的测试资源划分方案
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机译:半导体集成电路,BIST电路,BIST电路的设计程序,BIST电路的设计装置以及存储器的测试方法
机译:半导体集成电路,BIST电路,BIST电路的设计程序,BIST电路的设计装置以及存储器测试方法
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