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侯瑞田;
国营第785厂第一研究所,山西,太原市,030024;
电子封装; 倒装芯片; 晶圆级CSP封装; 3D封装;
机译:晶圆上形成有CU的晶圆级CSP组件的焊点可靠性分析
机译:晶圆级CSP,晶圆级组装/测试:集成后端流程
机译:晶圆级CSP技术制造电对称高Q电感的新设计方法
机译:使用模板印刷技术的晶圆级CSP和倒装芯片的晶圆凸点
机译:结构设计参数对晶圆级CSP球剪切强度的影响及其对加速热循环可靠性的影响。
机译:金膜厚度和表面粗糙度对室温晶圆键合和金-金表面活化键合的晶圆级真空密封的影响
机译:使用新型铜螺柱技术提高晶圆级CSP的焊球剪切强度
机译:非均匀晶圆级电路架构的三维集成和晶圆封装;会议文件与简报图表
机译:晶圆级透镜阵列的形成方法,形成类型,晶圆级透镜阵列以及具有该晶圆级透镜阵列的晶圆级透镜阵列
机译:使用晶圆映射技术的晶圆级生产芯片级半导体封装
机译:引线键合技术在晶圆凸块,晶圆级芯片级封装结构上的应用及其制造方法
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