抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究

祝周荣; 姜丽梅; 刘国斌; 刘芳汝

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抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究

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SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,配置刷新能提高SRAM型FPGA抗单粒子翻转的能力,目前宇航SRAM型FPGA的抗SEU动态刷新电路设计技术已经较为成熟,但是如何验证其功能正确性,没有给出特殊方法.本文提出四种消除单粒子效应造成的软故障的抗SEU的FPGA设计方式,并重点针对周期性闭环配置刷新方式进行了仿真验证技术研究,找出验证该模式的关键验证要点,供验证人员作为指导.

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来源
《数字技术与应用》|2018年第2期|40-42|共3页
作者
祝周荣; 姜丽梅; 刘国斌; 刘芳汝;
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作者单位

上海航天软件测评中心,上海 201109;

上海航天软件测评中心,上海 201109;

上海航天软件测评中心,上海 201109;

上海航天软件测评中心,上海 201109;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN791;
关键词
FPGA; SEU; 动态刷新; SRAM;

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