FPGA抗SEU加固设计测试验证技术研究

摘要

SRAM型FPGA以其优越的性能逐渐在航天领域得到应用，采取有针对性的抗辐射加固设计与测试验证技术研究是确保器件可靠应用的信心和保证。针对Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA的抗SEU加固设计，提出一种由故障生成与注入计算机、目标器件和测控计算机三部分组成的测试验证方案，采取单粒子故障注入的方式实现对配置存储区单粒子翻转故障检测与修复的测试验证。以典型器件XQR2V6000为试验对象，针对各种配置存储器GCLK、IOI、IOB、CLB和BRAM互连等资源的故障测试表明，该方案能够有效地解决对Xilinx Vinex-ⅡFPGA抗SEU设计的测试验证需求。