嵌入式DRAM的BIST测试方法的研究

摘要

通过对比分析了嵌入式DRAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了嵌入式DRAM的内建自测试(BIST)方案,该方案具有测试生成快,节约测试成本等优点,对其它类型电路的测试也有很好的借鉴价值.