嵌入式DRAM阵列的测试方法

摘要

一种测试DRAM的方法和系统，该DRAM包含多个DRAM块。该方法包含：在一个基于处理器的内置自测试系统中产生一个测试数据模式；对每个DRAM块，将该测试数据模式写入该DRAM块，暂停一段预先确定的时间并从该DRAM块中读出结果数据模式；其中对于每个DRAM块，将测试模式写入DRAM块是在暂停一段预先确定的时间之前进行的，而从DRAM块中读出结果数据模式是在暂停一段预先确定的时间之后进行的；而且其中两个或更多个DRAM块的预先确定的暂停时间段至少有一部分在时间上是重叠的。