基于BIST的FPGA测试方法研究

摘要

文章讨论了利用内建自测试结构对FPGA内部可编程逻辑资源进行测试的方法.以基于SRAM结构的FPGA为例,分析了一种查找表内建自测试方案在实际应用中存在的问题,并提出了一种改进测试方法,解决了综合过程中存在的不匹配问题.同时,还消除了由地址叠加造成的波形错位和周期错误,并在XC3S400芯片上完成了测试.