Stanford University.;
机译:通过过程/器件/电路连续仿真分析高频带Si功率MOSFET中0.5μm沟道Al / WSx / Poly-Si栅极的性能
机译:高温对DC / AC应力0.35μmn-MOSFETs性能和热载流子退化的影响分析
机译:互连对单电子隧穿器件基本子电路性能的影响
机译:功率MOSFET在交流电源电路保护装置中的应用
机译:纳米级MOSFET,碳纳米管器件和集成电路的热和性能建模。
机译:以纳米MOSFET为基准的碳纳米管场效应晶体管的器件和电路级性能
机译:使用横向非对称沟道MOSFET评估布局对器件和模拟电路性能的影响