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致谢
摘要
第一章 绪论
1.1 微机电系统(MEMS)简介
1.2 MEMS封装技术
1.3 硅通孔技术
1.3.1 硅通孔技术简介
1.3.2 硅通孔技术国内外发展状况
1.4 课题研究内容与论文结构
第二章 MEMS基本加工工艺
2.1 光刻
2.2 刻蚀
2.2.1 干法刻蚀
2.2.2 湿法刻蚀
2.3 化学气相沉积
2.4 减薄、CMP
2.4.1 减薄
2.4.2 CMP
2.5 其他MEMS工艺介绍
2.5.1 氧化
2.5.2 掺杂
2.6 硅通孔制作与填充工艺流程设计
2.7 本章小结
第三章 高深宽比的通孔刻蚀
3.1 引言
3.2 电感耦合等离子体刻蚀(ICP)技术
3.2.1 等离子体的产生机制
3.2.2 反应离子刻蚀
3.2.3 ICP刻蚀技术
3.3 实验与讨论
3.3.1 5μm通孔的刻蚀工艺
3.3.2 10μm通孔的刻蚀工艺
3.3.3 高深宽比通孔的刻蚀工艺优化
3.4 本章小结
第四章 通孔多晶硅的沉积技术
4.1 引言
4.2 化学气相沉积
4.2.1 化学气相沉积原理
4.2.2 常压沉积(APCVD)
4.2.3 等离子体增强化学气相沉积(PECVD)
4.2.4 低压化学气相沉积(LPCVD)技术
4.3 实验与讨论
4.3.1 实验准备
4.3.2 多晶硅沉积速率与沉积温度的关系
4.3.3 多晶硅沉积速率与硅烷浓度关系
4.3.4 多晶硅沉积速率与反应压力的关系
4.3.5 通孔的多晶硅沉积
4.4 通孔电学特性检测
4.5 本章小结
第五章 全文总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读硕士期间发表的论文
合肥工业大学;