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第一章 绪论
1.1 离子注入技术
1.2 SOI材料技术
1.2.1 SOI材料的特点
1.2.2 SOI材料的制备
1.3 Smart-cut技术
1.3.1 Smart-cut技术的工艺流程
1.3.2 轻气体离子注入硅基材料的发展
1.4 本论文的主要工作
第二章 实验过程及其原理
2.1 实验材料
2.2 样品的离子注入
2.2.1 离子注入条件的选择
2.2.2 离子注入的物理原理
2.2.3 射程分布和浓度分布
2.3 离子注入后样品的退火处理
2.4 注入及退火样品的观测手段及其基本原理
2.4.1 扫描电子显微镜(SEM)
2.4.2 原子力显微镜(AFM)
2.4.3 透射电子显微镜(TEM)
第三章 氦氢离子联合注入SiO2/Si的实验结果及分析
3.1 SEM观测结果
3.2 AFM观测结果
3.3 XTEM观测结果
3.4 实验结果讨论及机制分析
3.5 本章小结
第四章 氦氢离子联合注入Si3N4/Si的实验结果及分析
4.1 SEM观测结果
4.1.1 高剂量H离子附加注入
4.1.2 中剂量H离子附加注入
4.1.3 低剂量H离子附加注入
4.2 AFM观测结果
4.3 XTEM观测结果
4.4 实验结果讨论及机制分析
4.5 本章小结
第五章 结论与展望
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢