Department of Quantum Engineering and Systems Science Graduate School of Engineering, The University of Tokyo 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, Japan;
ion irradiation; surface; nickel; kelvin probe; work function;
机译:使用开菜探针的绝缘剂TOF-SIMS分析的初级离子枪照射后聚合物薄膜的表面电位测量结果和真空测量仪的影响
机译:紫外线作用下铂电极上富勒烯衍生物膜的表面电势的压电悬臂开尔文探针力显微镜研究
机译:紫外线作用下铂电极上富勒烯衍生物膜的表面电势的压电悬臂开尔文探针力显微镜研究
机译:KELVIN探针在HE和H离子照射下镍的表面演变
机译:使用原位Kelvin探针研究滑动金属表面的变化。
机译:温度依赖性压电响应和开尔文探针力显微镜探测P(VDF-TrFE)/(PbBa)(ZrTi)O3复合物中极化态的演变
机译:用压电悬臂对紫外探测紫外线电极富勒烯衍生物膜的表面电位研究