首页> 中国专利> 一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法

一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法

摘要

本发明属于材料测试技术领域,具体涉及了一种基于开尔文探针力显微镜的表面电势测量方法。利用开尔文探针力显微镜测量得到的针尖一倍频振幅、二倍频振幅与针尖上施加的直流偏压的关系曲线,确定开尔文探针力显微镜测量表面电势时针尖与样品的距离,最终以此针尖与样品的距离实现对样品表面电势的准确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN107255738B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710486841.1

  • 申请日2017-06-23

  • 分类号

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人李明光

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:48:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-14

    授权

    授权

  • 2017-11-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/00 申请日:20170623

    实质审查的生效

  • 2017-11-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/00 申请日:20170623

    实质审查的生效

  • 2017-10-17

    公开

    公开

  • 2017-10-17

    公开

    公开

  • 2017-10-17

    公开

    公开

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