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目录
第一章 绪论
1.1研究背景
1.2辐照效应分析
1.3 FinFET器件及总剂量效应研究现状
1.4论文主要工作和组织安排
第二章 MOS器件及FinFET器件的总剂量效应分析
2.1 MOS器件总剂量效应分析
2.2 FinFET建模分析
2.3 FinFET器件总剂量效应仿真分析
2.4本章小结
第三章 SRAM辐射敏感性分析及加固方法探讨
3.1 SRAM存储单元
3.2灵敏放大器
3.3外围电路的总剂量效应
3.4本章小结
第四章FinFET SRAM总剂量效应试验方案设计
4.1国内外总剂量试验标准对比
4.2总剂量试验方法
4.3FinFET SRAM的总剂量试验方案
4.4FinFET SRAM芯片选型
4.5本章小结
第五章 总结与展望
5.1工作总结
5.2工作展望
参考文献
致谢
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