基于FPGA的通用FASH存储器测试验证系统

摘要

芯片的验证测试是芯片开发流程中的重要环节，验证部分的经费在整个开发中的比例也逐年增大。随着集成电路近年来工艺的发展，使得存储器在设计和制作过程中出现了越来越多的问题，因此芯片验证越来越受到重视，关系到整个设计的可行性。本文针对Flash芯片的验证开发了一款基于FPGA的通用测试平台，主要内容有:
　　1、讨论了开发本款Flash存储器验证系统的可行性，分析了芯片验证的的国内外发展现状。
　　2、研究了Flash存储器测试的基本原理，包括芯片故障模型和芯片测试算法，并介绍了本文中待测的6MbNORFLASH存储器芯片的结构，明确了系统的验证目的。
　　3、详细介绍了本文中设计的基于FPGA的通用Flash存储验证系统的硬件电路设计，着重介绍了设计思路和注意事项。在Cadence和AltiumDesign10中完成了各个模块的设计，主要包括FPGA外设电路设计、电源电路设计和上层接口板电路设计。
　　4、最后，用调试好的验证系统硬件电路在实验室对6MbNORFlash芯片进行验证测试，并综合各种测试数据来验证芯片的正确性。
　　本系统主要有两个特点:首先是系统选择的FPGA芯片可以嵌入MicroBlaze内核，相当于用FPGA实现了CPU和FPGA的功能;此外就是FPGA预留了219个IO口用于连接测试芯片，采用了上层接口板的设计，目的是为了实现系统通用的功能，针对不同的芯片只需要修改上层接口板电路和FPGA内部的程序，缩短了开发周期和成本。