基于FPGA的同步动态随机存储器测试仪的实现

摘要

针对动态同步存储器在高速运行时出现的读写错误,设计了一种自动测试仪,允许自动改变电压,自动调整同步内存的参数,通过大量数据读写内存来确定故障芯片对哪种参数比较敏感,从而确定测试方案。