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基于FPGA的FLASH存储器测试仪的设计

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本文介绍了一种基于FPGA可逻辑器件开发的可对FLASH存储器的读数据、页编程、块擦除等操作测试仪.文中主要从硬件电路、逻辑程序和上位机软件设计等三方面详细介绍了FLASH存储器测试仪的工作原理.本测试仪具有可靠性高、系统稳定、通用性好等优点,被广泛应用于航空航天领域中对火箭和导弹弹载数据记录器的可靠性测试工作.

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来源
《第二十一届测试与故障诊断技术研讨会》|2012年|333-338|共6页
会议地点南昌
作者
刘龙飞; 张彦军; 朱思敏;
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作者单位

中国计算机自动测量与控制技术协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术与设施;
关键词
火箭导弹; FLASH存储器; 弹载数据; 测试仪; 现场可编程门阵列;
入库时间 2022-08-17 11:10:32

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