Czech Technical University in Prague, Department of Radio Engineering, Czech Republic;
机译:基于MOS的器件的电气表征的可靠程序
机译:MOS基器件中SiO_2 / SiC和SiO_2 / GaN处俘获现象的电学表征
机译:频率和γ辐射对ER2O3,GD2O3,YB2O3和HFO2基于HFO2器件的电气特性的影响
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机译:掺磷金刚石薄膜的生长和表征:掺杂,电学表征,界面的EBIC表征和某些器件应用的影响
机译:猪血管内手术后的血管闭合装置:可靠的方法吗?
机译:开发用于确定电源系统的相对定量装置的最佳置换装置0.4kV的程序,具有电动机致动负载