机译:高质量结晶氮化镓薄膜的低温ECR-PEMOCVD沉积:用于非晶玻璃基板上生长的中间层的比较研究
机译:低温光致发光光谱法测量氮化镓膜的2 MeV质子辐射损伤
机译:等离子体工艺沉积厚绝缘膜的击穿电压和AC TDDB可靠性的温度依赖性研究
机译:研究中含汞和氮化镓厚膜中非甲状腺域的温度依赖性。
机译:温度依赖于太赫兹时域光谱测量的氮化镓薄膜和氧化锌纳米线中太赫兹载流子动力学的特性
机译:使用顺序表面反应在室温和100°C下电子增强结晶氮化镓薄膜的生长
机译:MBE生长中含氮化镓结构的温度依赖性研究